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冲击试样缺口投影仪

产品说明:
 CST-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。是理化试验室的必备专用设备
技术参数:
1.投影屏直径:        180mm
2.工作台尺寸:
方工作台尺寸:    110×125mm
圆工作台直径:    90mm
工作台玻璃直径:  70mm
3.工作台行程:
纵向:            ±10mm
横向:            ±10mm
升降:            ±12mm(无刻度)
4.工作台转动范围:    0~360°(无刻度)
5.仪器放大倍率:      50X
物镜放大倍率:    2.5X
投影物镜放大倍率:20X
6.光源(卤钨灯):    12V    100W
7.电源:             220V    50Hz
8.外形尺寸:         515×224×603mm(长×宽×高)
9.重量:             约18Kg
主要配置:
1.投影仪主机 一台
2.底座调整钮 四个
3.电源线 一根
4.卤钨灯 二个
5.平板玻璃 一块